金属及高分子材料

金属及高分子材料

TEM Sample Preparation  (TEM特殊样品制备)

Surface Analysis （TEM,SEM 观察、拍照 ;单球差TEM; 双球差TEM; 投影波纹技术；X射线荧光分析（XRF)；SRP扩展电阻仪（定点与非定点）；X射线光电子能谱分析XPS; 二次离子质谱仪SIMS; 傅立叶红外光谱仪FTIR.

Failure Analysis and Failure localization( Probe Station; C/V 曲线追踪仪；光学显微镜；3D光学数码显微镜；2D X-Ray; InGaAs微光显微镜； Thermal 热点分析；导电性原子力显微镜（C-AFM）; Nano probe测试14-45nm)